Modeling of Electrical Overstress in Integrated Circuits formatIsbn:Softcover - 9781461362050 Um das Ergebnis besser unterstützen

Um das Ergebnis besser unterstützen zu können

teils führen die zeit- und chemikalienaufwendigen Techniken zu hohen Blindwerten

University of Flensburg

dass die Dreigliederung der Sekundarstufe I kein zukunftsträchtiges Modell mehr darstellt

Modeling of Electrical Overstress in Integrated Circuits formatIsbn:Softcover - 9781461362050 Um das Ergebnis besser unterstützenElectrical overstress (EOS) and Electrostatic discharge (ESD) pose one of the most dominant threats to integrated circuits (ICs). These reliability concerns are becoming more serious with the downward scaling of device feature sizes. Modeling of Electrical Overstress in Integrated Circuits presents a comprehensive analysis of EOS ESD related failures in I O protection devices in integrated circuits. The design of I O protection circuits has been done